Технология измерений
Технология измерений
MarVision MM 200 Измерительный микроскоп промышленного назначения
RU
Характеристики изделия
  • Высококачественная оптика для получения освещенных и четких трехмерных изображений
  • Объектив с переменным фокусным расстоянием с возможностью бесступенчатой регулировки кратности увеличения и/или объектив с постоянным фокусным расстоянием
  • Фокусировка выполняется с помощью эргономичного маховика, который может располагаться как справа, так и слева, в зависимости от того, какой рукой удобнее работать оператору.
  • Призматическая головка с углом наклона 45° и диоптрийной наводкой
  • Светодиодная кольцевая подсветка с регулируемой яркостью
  • Светодиодная задняя подсветка с регулируемой яркостью
  • Массивное чугунное основание
  • Устойчивый прецизионный координатный стол
  • Технические характеристики

№ для заказаРабочее расстояние в ммПоле зрения в ммПодсветкаРазмер стола в ммУвеличениеИзмерительная системаДиапазон измерения по осям X/Y в ммИзмерительная система — повторяемость в мкмИзмерительная система — предел допустимой погрешности в мкмНагрузка на стол (максимальная) в кгМаксимальная высота детали в ммИзмерительная система — разрешение в мм
4246000
75
6
Светодиодный индикатор Источник падающего и проходящего света с возможностью независимой регулировки
150 x 150
объектив 32x с фиксированным расстоянием фокусировки
Микрометрические головки
50 / 50
2
8
15
190
0,001
4246001
75
23 - 4
Светодиодный индикатор Источник падающего и проходящего света с возможностью независимой регулировки
150 x 150
Переменное увеличение 8x–40x
Микрометрические головки
50 / 50
2
8
15
190
0,001